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  • 高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱程序
    高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱程序

    高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱程序適用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國(guó)防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害

    更新時(shí)間:2024-11-09型號(hào):訪問(wèn)量:1575
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  • 自制冷熱沖擊箱
    自制冷熱沖擊箱

    自制冷熱沖擊箱系統(tǒng)配置: 加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器 制冷系統(tǒng):采原裝歐美進(jìn)口高效率壓縮機(jī) 循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風(fēng)扇

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  • 冷熱交替沖擊試驗(yàn)箱
    冷熱交替沖擊試驗(yàn)箱

    冷熱交替沖擊試驗(yàn)箱瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬,塑料,橡膠, 電子等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

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  • 溫濕度冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
    溫濕度冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    溫濕度冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種用于評(píng)估材料、組件或產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的耐熱性和耐寒性能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它模擬了實(shí)際使用條件下的溫度變化,通過(guò)迅速改變?cè)嚇铀幍臏囟葋?lái)觀察其在冷熱循環(huán)過(guò)程中的物理和化學(xué)性能。

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  • AP-CJ250L冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
    AP-CJ250L冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    250L冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)就是蓄能式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,主要測(cè)試產(chǎn)品是當(dāng)前電子部品測(cè)試用,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。確保產(chǎn)品的品用于工業(yè)產(chǎn)品、電子元器件及其它產(chǎn)品的安全性能測(cè)試提供高低溫沖擊、忽冷忽熱等可靠性環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及產(chǎn)品篩選測(cè)試等,同時(shí)通過(guò)此設(shè)備的試驗(yàn)還可提高產(chǎn)品的可靠性及質(zhì)量控制。

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):AP-CJ訪問(wèn)量:1365
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  • AP-CJ快速高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
    AP-CJ快速高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱

    快速高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)試溫度范圍有:A:-40℃~150℃;B:-55℃~150℃;C:-65℃~150℃;可以跟標(biāo)準(zhǔn)尺寸:容積50升對(duì)應(yīng)的:寬35x高35x深40cm;容積80升對(duì)應(yīng)的:寬50x高40x深40cm;容積100升對(duì)應(yīng)的:寬60x高40x深40cm;容積150升對(duì)應(yīng)的:寬60x高50x深50cm;容積250升對(duì)應(yīng)的:寬70x高60x深60cm;進(jìn)行匹配成型號(hào),如有非標(biāo)尺寸請(qǐng)聯(lián)系

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):AP-CJ訪問(wèn)量:1628
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  • AP-CJ冷沖熱快速變化試驗(yàn)箱
    AP-CJ冷沖熱快速變化試驗(yàn)箱

    冷沖熱快速變化試驗(yàn)箱是一種能施加高低溫度應(yīng)力且能實(shí)現(xiàn)在期望高低溫度值能在瞬間快速變化的試驗(yàn)箱,由加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、可程式控制系統(tǒng)、溫度循環(huán)風(fēng)系統(tǒng)、溫度傳感器系統(tǒng)等組成。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害,確保產(chǎn)品的品用于工業(yè)產(chǎn)品、電子元器件及其它產(chǎn)品的安全性能測(cè)試提供高低溫沖擊、忽冷忽熱等可靠性環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及產(chǎn)品篩選測(cè)試等,同時(shí)通過(guò)此設(shè)備的試驗(yàn)還可提高產(chǎn)品的可靠性及質(zhì)量控制。

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):AP-CJ訪問(wèn)量:1561
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  • AP-CJ冷、熱溫度沖擊測(cè)試設(shè)備
    AP-CJ冷、熱溫度沖擊測(cè)試設(shè)備

    冷、熱溫度沖擊測(cè)試設(shè)備設(shè)備分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,冷熱沖擊試驗(yàn)箱品牌(三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱)設(shè)備分為高溫區(qū),低溫區(qū),測(cè)試區(qū)三部分,采用*之?dāng)酂峤Y(jié)及蓄熱,蓄冷效果,采用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測(cè)試。

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